热电参数测试系统

主要技术参数

1、工作温度：RT~800℃；

2、相对误差精度：Seebeck系数 ≤ 7%，电阻率 ≤ 5%；

3、分辨率：Seebeck系数：5×10-8 V/K； 电阻率：5×10-8 Ω·m；

4、样品尺寸：块体：长×宽：(2~5) mm×(2~5) mm；高度：10 mm~18 mm；

5、温控方式：PID 程序控制；

6、真空度：50 Pa。

应用领域

应用于材料、生物医疗、电子技术等众多领域，可用于测量半导体块状样品，康铜、镍、铋等金属半金属样品，石墨、碳材料等非金属样品的Seebeck 系数和电阻率，还可测薄膜（纳米）样品的 Seebeck 系数和电阻率。