薄膜测厚仪

厂家：Semiconsoft    型号：UVVisNIR-MSP

仪器简介

功能：快速、可靠地测量大部分半透明或具有轻微吸收性的薄膜材料厚度、光学常数、表面粗糙度。

优势： 实时测量和分析各种多层次的、薄的、厚的，独立的和不均匀的层。丰富的材料库 (500多种材料)，可支持参数化材料：Cauchy, Tauc-Lorentz, Cody-Lorentz, EMA 等。操作软件支持一键式测量和分析，仿真和灵敏度分析，背景和缩放修正，连接层和材料，多样品测量、动态测量。