厂家：Olympus 型号：OLS4100
仪器简介
功能：通过非接触的方式进行样品表面三维形貌观察和测量。最高分辨率达10 nm，可以方便快捷地获取影像，同时配备丰富的测量功能，可测量材料线粗糙度及面粗糙度。
优势：采用了双共焦系统，结合高灵敏度的探测器，可以测量那些具有不同反射率材料的样品。多层模式可实现对透明样品的顶部的透明层进行观察和测量。OLS4100 是业界首次同时保证了"正确性"和"重复性"的激光扫描显微镜。
主要技术参数
1、放大倍数：10倍~17280倍；
2、光学变焦：1倍~8倍；
3、光源：405 nm半导体激光，LED光源；
4、平面分辨率：120 nm，高度分辨率：10 nm。
应用领域
广泛应用于钢铁、有色金属、环境、食品、化工、制药、半导体、陶瓷及高分子等材料的2D、3D表面形貌观察、线粗糙度及面粗糙度的测量。
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