X射线衍射仪

厂家：Bruker    型号：D8 ADVANCE

仪器简介

功能：1、物相分析：定性、定量、无标样定量分析；

2、结构分析：精确测定晶胞参数、指标化；

3、薄膜分析：薄膜物相分析、次序、厚度、密度、粗糙度(0~5nm)；

4、小角散射分析：测量纳米材料的粒度。

优势：1、林克斯一维阵列探测器相对于常规探测器强度提高150倍以上，灵敏度提高一个数量级；

2、配备化学反应器（XRK900），可实现固体样品在变温状态下（室温～900℃）气固反应测试，可真空、可通氢气、氧气、大气；

3、配备变温原位附件，可实现-180℃～1600℃下高低温测试，2θ可测范围-10°~163°。高低温模块之间的切换只需更换加热模块，而无需更换整个样品台；而且该样品台为高度自动可调样品台，对于不同高度的样品均能应付自如；

4、配备高精度XYZ样品台，可完成薄膜、表面分析及其他多样性样品测试。